• 企業類型：制造商
• 新舊程度：全新
• 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
• 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
• 探測器：Si-Pin探測器
• 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
• 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
• 溫度要求：15℃至30℃。
• 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
• 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm

鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光(guang)法(fa)，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

五金鍍層測(ce)量已成為(wei)加工(gong)工(gong)業、表(biao)面工(gong)程質量檢測(ce)的重要環節，是產品(pin)達到優等質量標(biao)準的必要手段。為(wei)使產品(pin)化，我國出口商品(pin)和(he)涉(she)外(wai)項目中(zhong)，對鍍層厚度有了明(ming)確要求。

    天瑞儀器五金鍍層測量儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

    五金鍍層測量儀測量值精度的影響因素

    1．影響因素(su)的有關說明(ming)

    a 基體金屬磁性質

    磁性(xing)法測厚受基體金屬(shu)(shu)磁性(xing)變(bian)化的影響（在實際應用(yong)中，低碳鋼磁性(xing)的變(bian)化可以(yi)認為(wei)是輕微的），為(wei)了避免熱處理(li)和冷加工因素(su)的影響，應使用(yong)與(yu)試件(jian)基體金屬(shu)(shu)具有相(xiang)同性(xing)質的標準片對儀器(qi)進(jin)(jin)行(xing)(xing)校準；亦可用(yong)待涂(tu)覆試件(jian)進(jin)(jin)行(xing)(xing)校準。

    b 基體金(jin)屬(shu)電性(xing)質

    基體(ti)金屬的電(dian)導(dao)率對測量(liang)有(you)影響，而基體(ti)金屬的電(dian)導(dao)率與(yu)(yu)其材料成分及熱處理方法有(you)關。使用與(yu)(yu)試件(jian)基體(ti)金屬具有(you)相(xiang)同(tong)性質的標準片(pian)對儀器(qi)進行(xing)校(xiao)準。

    c 基體金屬厚度

    每(mei)一種儀器都(dou)有一個基體(ti)金屬(shu)的(de)臨(lin)界(jie)厚(hou)(hou)度。大于這個厚(hou)(hou)度，測(ce)量就(jiu)不受(shou)基體(ti)金屬(shu)厚(hou)(hou)度的(de)影響。本儀器的(de)臨(lin)界(jie)厚(hou)(hou)度值見附表1。

    d 邊緣效應

    本儀器對試(shi)件表面形狀的陡變敏感。因(yin)此在靠近試(shi)件邊緣(yuan)或內轉角處進(jin)行測量是(shi)不可靠的。

    e 曲率

    試件的(de)曲率(lv)(lv)對(dui)測(ce)量有影響(xiang)。這種影響(xiang)總(zong)是隨(sui)著曲率(lv)(lv)半徑的(de)減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的(de)表面上測(ce)量是不可靠(kao)的(de)。

    f 試件(jian)的(de)變形

    測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些(xie)試件上測出可靠的數據。

    g 表面粗糙度(du)

    基體金屬(shu)和覆蓋(gai)層(ceng)的(de)(de)表(biao)面粗(cu)糙(cao)(cao)程(cheng)(cheng)度(du)對(dui)測量(liang)有(you)影響。粗(cu)糙(cao)(cao)程(cheng)(cheng)度(du)增(zeng)大(da)，影響增(zeng)大(da)。粗(cu)糙(cao)(cao)表(biao)面會引起系統誤(wu)差和偶(ou)然(ran)誤(wu)差，每(mei)次測量(liang)時，在(zai)不同位(wei)置上應增(zeng)加測量(liang)的(de)(de)次數，以(yi)克服這種偶(ou)然(ran)誤(wu)差。如果(guo)基體金屬(shu)粗(cu)糙(cao)(cao)，還(huan)必須在(zai)未涂覆的(de)(de)粗(cu)糙(cao)(cao)度(du)相類似的(de)(de)基體金屬(shu)試件上取幾個(ge)位(wei)置校對(dui)儀器(qi)的(de)(de)零點(dian)；或用對(dui)基體金屬(shu)沒有(you)腐蝕的(de)(de)溶液溶解除(chu)去(qu)覆蓋(gai)層(ceng)后(hou)，再校對(dui)儀器(qi)的(de)(de)零點(dian)。

    g 磁場

    周圍(wei)各種電氣設備所產生的強磁(ci)場，會嚴重地(di)干擾磁(ci)性法測厚(hou)工作。

    h 附著物質

    本儀器對那(nei)些妨礙測(ce)頭(tou)與覆(fu)蓋層表面(mian)緊密(mi)接(jie)觸(chu)的附著(zhu)物(wu)質(zhi)(zhi)敏感，因此，必(bi)須(xu)清(qing)除附著(zhu)物(wu)質(zhi)(zhi)，以保證儀器測(ce)頭(tou)和被測(ce)試(shi)件(jian)表面(mian)直接(jie)接(jie)觸(chu)。

    i 測頭(tou)壓力

    測頭置于(yu)試(shi)件(jian)上所施加的(de)壓力(li)大小會(hui)影(ying)響測量的(de)讀數，因此，要保持壓力(li)恒定。

    j 測頭的取向

    測(ce)頭的(de)放置(zhi)方式對測(ce)量有影(ying)響。在測(ce)量中(zhong)，應當使測(ce)頭與試(shi)樣表面保持垂直。

    2．使用儀器時應當遵守(shou)的規定

    a 基體金屬特(te)性

    對于磁(ci)性(xing)方(fang)法，標準片的基體金屬(shu)的磁(ci)性(xing)和(he)表(biao)面(mian)粗(cu)糙度，應當與試件基體金屬(shu)的磁(ci)性(xing)和(he)表(biao)面(mian)粗(cu)糙度相似。

    對于渦流方法，標準片(pian)基(ji)(ji)體(ti)金(jin)屬的電性質，應當與試件基(ji)(ji)體(ti)金(jin)屬的電性質相(xiang)似。

    b 基體(ti)金屬厚度

    檢查基體金屬厚(hou)(hou)度是否超過(guo)臨界厚(hou)(hou)度，如果沒(mei)有，可(ke)采用(yong)3.3中(zhong)的某種(zhong)方法進行校(xiao)準。

    c 邊緣(yuan)效應

    不應在緊靠試件的(de)突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測(ce)量。

    d 曲率

    不應在試件的彎曲表(biao)面上測(ce)量。

    e 讀數次數

    通常(chang)由于儀器的(de)每次讀數(shu)并不(bu)*相同，因(yin)此必(bi)須在每一測量面(mian)積(ji)內(nei)取幾(ji)個讀數(shu)。覆蓋層厚度的(de)局部差異，也要求在任一給定的(de)面(mian)積(ji)內(nei)進行多次測量，表面(mian)粗造時更應如(ru)此。

    f 表面清潔度

    測(ce)量前(qian)，應清除(chu)(chu)表面上的任何(he)附著物質(zhi)，如塵土、油脂及(ji)腐蝕產物等(deng)，但(dan)不要除(chu)(chu)去任何(he)覆蓋層物質(zhi)

性能特點

滿足(zu)各種不同厚(hou)度樣品以及(ji)不規則表面樣品的測(ce)試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微(wei)小測(ce)試點的需求(qiu)

高(gao)精(jing)(jing)度移(yi)動平臺可(ke)精(jing)(jing)確定(ding)位(wei)測(ce)試點，重復定(ding)位(wei)精(jing)(jing)度小于0.005mm

采用高度(du)定位激光，可(ke)自(zi)動定位測試(shi)高度(du)

定(ding)位激光確定(ding)定(ding)位光斑，確保測試(shi)點與光斑對齊

鼠(shu)標可控制(zhi)移動(dong)平臺，鼠(shu)標點(dian)擊(ji)的位置就(jiu)是被測點(dian)

高分辨率探頭使分析(xi)結果更加精準

良(liang)好的射線屏蔽作用

測(ce)試口高度(du)敏感(gan)性傳感(gan)器(qi)保護

標準配置

開(kai)放式樣品腔。

精密二維移動(dong)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dong)，實(shi)現三維移動(dong)。

雙激光定位裝置。

鉛玻(bo)璃(li)屏(ping)蔽罩。

Si-Pin探(tan)測(ce)器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源(yuan)。

X光管。

高度傳(chuan)感器(qi)

保護傳(chuan)感(gan)器

計(ji)算(suan)機(ji)及噴(pen)墨(mo)打印機(ji)

技術指標

型號：Thick 800A

元素分(fen)析范圍從硫(S)到(dao)鈾(you)（U）。

同時(shi)可以(yi)分析30種以(yi)上元素，五層(ceng)鍍層(ceng)。

分(fen)析含量一(yi)般(ban)為(wei)ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內（每(mei)種材(cai)料有所(suo)不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效(xiao)應校正模(mo)型。

多變量(liang)非線性回收程序

度適應(ying)范(fan)圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化(hua)穩壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺(chi)寸(cun)：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

廠家(jia)介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業生產X熒光測厚儀，液相色譜質譜儀（LCMS）,原子熒光光譜儀，x射線測厚儀，ROHS檢測儀，手持式ROHS光譜儀，ROHS分析(xi)儀，手持式合金分析儀，ROHS檢測設備，電鍍層測厚儀，，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測厚儀。天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產、銷售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發、生產、銷售和相關技術服務，是國內在創業板上市的分析儀器企業。公司產品主要應用于環境保護與安全（空氣、土壤、水質污染檢測等）、礦產與資源（地質、采礦）、商品檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多領域。